Messgeräte und -verfahren

• Zeiss Laser-Scanning-Mikroskop LSM900
  
  
• Indiziermesstechnik Indimicro 602 AVL
  
  
• LPKF ProtoLaser R4
  
  
• Laser (UV, VIS, IR) für optische Messverfahren
  
  
• Kameras (CCD, High-Speed, IR)
  
  
• Spektroskopische Messtechnik (LIF, Raman, Rayleigh, Mie, CLD, NDIR, FID, FTIR)
  
  
• Particle-Image-Velocimetry (PIV)
  
  
• schnelles Partikelmessgerät DMS 500
  
  
• Scanning Mobility Particle Sizing (SMPS)
  
  
• Chromatographie (HPLC, GC mit FID/PFPD/MS)
  
  
• S-und N-Analyse bis < 1 ppm
  
  
• REM (inkl. BSE und EDX, ESEM)
  
  
• Thermogravimetrie
  
  
• Digitaloszillographie, Netzwerk- und Spektrumanalyse (bis GHz-Bereich)

• Magnetschwebewaage
  
  
• ICP-OES / XRD (Mit Hochdruckmesszelle)